Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡
Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡產品介紹：
Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡是基于原子力顯微鏡納米力學分析的自動化解決方案。它旨在以直觀和自動化的方式通過力譜和力圖研究多種或大型樣品上的材料（例如細胞，組織，支架，水凝膠和聚合物）的納米力學性能。對于多個樣品或者大起伏樣品有優勢。
Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡產品特點：
從樣品安裝到得出結果只需幾個步驟
高起伏樣品或多個樣品自動納米機械性能分析
針對不同模型來測量粘彈性、硬度、黏附力與壓入深度
智能軟件自主處理測量需求
樣品高度起伏可達5mm，力譜曲線范圍Z向可達 100μm
專用分析軟件可用于大批量與復雜數據的輕松比對
Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡產品優勢：
對大型或多個樣品的納米力學分析
ANA軟件中采用了一種直觀的基于工作流的實驗過程，系統的硬件元素和電機驅動，以及精心設計和控制算法，三者結合是Flex-ANA系統的標志。只需單擊具有覆蓋整個可訪問的32 mm×32 mm樣品區域的大視場的概覽圖像，即可定義大型或多個樣品的測量位置。 系統可輕松克服高達5 mm的高度差異，并可執行和使用多種類型的納米力學測量、分析和模式！
輕松處理要求苛刻的樣品
在實驗過程中，ANA 系統協調掃描頭和電動 XYZ 平移臺（范圍：32 mm × 32 mm × 5 mm）的移動，以應對較大的樣品高度變化。該系統可以選擇配備額外的 100μm Z 壓電陶瓷，以擴展力譜范圍。因此，可以輕松處理宏觀和微觀粗糙度分別在幾毫米和幾微米范圍內的樣品，以及柔軟和粘稠的樣品。
Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡測量原理：
Nanosurf Flerx-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡通過在掃描過程中對每個像素點自動執行一次力譜測量（力-距離曲線），并從中提取局部力學參數，最終生成與形貌圖精確匹配的定量力學性質分布圖，從而在納米尺度上同時揭示樣品的表面形貌和力學異質性。這大大提高了傳統單點力譜的效率和空間分辨率。
Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡元件：
FlexAFM掃描頭
C3000控制器
ATS 204自動移動臺
主動式隔振臺
5MP輔助光學相機
高配計算機用于數據采集和分析
Flex-ANA測量與分析數據
可選100μm Z-actuator
Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡常見工業應用：
細胞 | 組織 | 支架 | 水凝膠 | 聚合物等 |
Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡產品參數：
范圍（X/Y/Z）： | 32/32/5mm | 可選δz范圍： | 100μm |
定位精度(X/Y/Z/δZ): | <1/<1/<1/<0.001μm | 重新定位精度(X/Y/Z): | <2μm |
更多參數可聯系我們獲取 | |||
Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡測量圖：
